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Statistische Prozessregelung 
Statistical Process Control
(SPC)

Inhaltsverzeichnis

1. Einleitung SPC
1.1 Weshalb ist eine statistische Prozessregelung erforderlich?

2. Statistische Prozessregelung
2.1 Stichproben
2.1.1 Der zeitliche Abstand zwischen zwei Stichproben
2.1.2 Die Fixierung des Stichprobenumfangs


2.2 Schema Probennahme


2.3 Häufigkeitsverteilung
2.3.1 Tatsächliche Häufigkeitsverteilung
2.3.2 Prozentuale Häufigkeitsverteilung (HV)
2.3.3 Theoretisch-prozentuale Häufigkeitsverteilung


2.4 Normalverteilung im Zusammenhang mit diskreten  Verteilungsformen
2.4.1 Weitere Verteilungen
2.4.1.1 Hypergeometrische Verteilung
2.4.1.2 Binomialverteilung
2.4.1.3 Poisson -Verteilung
2.4.1.4 Logarithmische Normalverteilung


2.5 Maschinen- und Prozessfähigkeit
2.5.1 Bedeutung der Spezifikation
2.5.2 Berechnung der Kenngrößen
2.5.3 Fähigkeitsindex  Cm und  Cp
2.5.4 Sicherheitsfaktoren f(UTG) und f(OTG)
2.5.5 Verhältnis „Toleranz zu Streuung ... T/s"
2.5.6 Zentrierter Fähigkeitsfaktor Cmk und Cpk


2.6 Qualitätsregelkarte als Werkzeug der Prozessregelung
2.6.1 Grundsätzliche Arbeitsweise der Qualitätsregelkarte
2.6.1.1  Urwertkarte (x-Karte)
2.6.1.2  Mittelwertkarte (x -Karte / m -Karte)
2.6.1.3  Standardabweichungskarte  (s -Karte)
2.6.1.4  Spannweitenkarte (R -Karte)
 

3. Anlagen
3.1 Diagramme
3.2 Ableitungen
3.3 Literaturverzeichnis
3.4 Formelsammlung und  Formelzeichen


3.5 Biographien
3.5.01 Francis Galton  1822 – 1911
3.5.02 Siméon Denis Poisson  1781 - 1840
3.5.03 Carl Friedrich Gauß  1777 - 1855
3.5.04 Jean Baptiste Joseph Fourier  1768 - 1830
3.5.05 Adrien Marie Legendre  1752 - 1833
3.5.06 Piere Simon de Laplace  1749 - 1827
3.5.07 Joseph Louis Lagrange 1736 - 1813
3.5.08 Leonhard Euler  1707 - 1783
3.5.09 Gottfried Wilhelm Leibniz 1646 - 1716
3.5.10 Blaise Pascal  1623 - 1662


3.6 Zitate 

 

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